Multilayer Graphene Stacks Grown by Different Methods–Thickness Measurements by X_Ray Diffraction, Raman Spectroscopy and Optical Transmission
Dane publikacji
Typ publikacji
Publikacja w czasopiśmie
Rodzaj publikacji
Artykuł
Tytuł publikacji
Multilayer Graphene Stacks Grown by Different Methods–Thickness Measurements by X_Ray Diffraction, Raman Spectroscopy and Optical Transmission
Adres internetowy
http://link.springer.com/article/10.1134/S1063774513070195
Tytuł czasopisma
CRYSTALLOGRAPHY REPORTS
Medium
publikacja drukowana
Tom
58
Zeszyt
7
Rok wydania
2013
Od strony
1053
Do strony
1057
Numer publikacji
Język publikacji
Angielski
Język etniczny badanej kultury
Zasięg
międzynarodowy
Rok sprawozdawczy
2013
Lista autorów
1.
Mateusz Tokarczyk
,
Zakład Fizyki Ciała Stałego
; Doktorant IFD UW
[
Współautor
]
2.
Henryk Kępa
,
Zakład Badań Strukturalnych
[
Współautor
]
3.
Kacper Grodecki
,
Zakład Fizyki Ciała Stałego
[
Współautor
]
4.
Aneta Drabińska
,
Instytut Fizyki Doświadczalnej
[
Współautor
]
5.
Włodzimierz Strupiński,
Jednostka zewnetrzna; ITME
[
Współautor
]
6.
Grzegorz Kowalski
,
Zakład Fizyki Ciała Stałego
[
Współautor
]