Multilayer Graphene Stacks Grown by Different Methods–Thickness Measurements by X_Ray Diffraction, Raman Spectroscopy and Optical Transmission

Dane publikacji
  
Typ publikacjiPublikacja w czasopiśmie
Rodzaj publikacjiArtykuł
Tytuł publikacjiMultilayer Graphene Stacks Grown by Different Methods–Thickness Measurements by X_Ray Diffraction, Raman Spectroscopy and Optical Transmission
Adres internetowyhttp://link.springer.com/article/10.1134/S1063774513070195
Tytuł czasopismaCRYSTALLOGRAPHY REPORTS
Mediumpublikacja drukowana
Tom58
Zeszyt7
Rok wydania2013
Od strony1053
Do strony1057
Numer publikacji
Język publikacjiAngielski
Język etniczny badanej kultury
Zasięgmiędzynarodowy
Rok sprawozdawczy2013

Lista autorów
  
 1. Mateusz Tokarczyk, Zakład Fizyki Ciała Stałego; Doktorant IFD UW [Współautor]
 2. Henryk Kępa, Zakład Badań Strukturalnych [Współautor]
 3. Kacper Grodecki, Zakład Fizyki Ciała Stałego [Współautor]
 4. Aneta Drabińska, Instytut Fizyki Doświadczalnej [Współautor]
 5. Włodzimierz Strupiński, Jednostka zewnetrzna; ITME [Współautor]
 6. Grzegorz Kowalski, Zakład Fizyki Ciała Stałego [Współautor]