Scanning tunneling microscopy investigations of silicon carbide nanowires.
Dane publikacji
Typ publikacji
Publikacja w czasopi¶mie
Rodzaj publikacji
Artykuł
Tytuł publikacji
Scanning tunneling microscopy investigations of silicon carbide nanowires.
Adres internetowy
Tytuł czasopisma
APPLIED SURFACE SCIENCE
Medium
publikacja drukowana
Tom
25
Zeszyt
Y
Rok wydania
2008
Od strony
4268
Do strony
4272
Numer publikacji
Język publikacji
Angielski
Język etniczny badanej kultury
Zasięg
międzynarodowy
Rok sprawozdawczy
2008
Lista autorów
1.
A Busiakiewicz,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]
2.
Z Klusek,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]
3.
Andrzej Huczko
,
Pracownia Fizykochemii Nanomateriałów
[
Współautor
]
4.
P Kowalczyk,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]
5.
P. D±browski,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]
6.
W Kozłowski,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]
7.
S Cudziło,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]
8.
P Datta,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]
9.
W Olejniczak,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]