Scanning tunneling microscopy investigations of silicon carbide nanowires.

Dane publikacji
  
Typ publikacjiPublikacja w czasopi¶mie
Rodzaj publikacjiArtykuł
Tytuł publikacjiScanning tunneling microscopy investigations of silicon carbide nanowires.
Adres internetowy
Tytuł czasopismaAPPLIED SURFACE SCIENCE
Mediumpublikacja drukowana
Tom25
ZeszytY
Rok wydania2008
Od strony4268
Do strony4272
Numer publikacji
Język publikacjiAngielski
Język etniczny badanej kultury
Zasięgmiędzynarodowy
Rok sprawozdawczy2008

Lista autorów
  
 1. A Busiakiewicz, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 2. Z Klusek, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 3. Andrzej Huczko, Pracownia Fizykochemii Nanomateriałów [Współautor]
 4. P Kowalczyk, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 5. P. D±browski, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 6. W Kozłowski, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 7. S Cudziło, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 8. P Datta, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 9. W Olejniczak, Jednostka zewnetrzna [Współautor]