Transmission electron microscopy and scanning tunneling microscopy investigations of graphene on 4H-SiC(0001)

Dane publikacji
  
Typ publikacjiPublikacja w czasopi¶mie
Rodzaj publikacjiArtykuł
Tytuł publikacjiTransmission electron microscopy and scanning tunneling microscopy investigations of graphene on 4H-SiC(0001)
Adres internetowy
Tytuł czasopismaJOURNAL OF APPLIED PHYSICS
Mediumpublikacja drukowana
Tom105
Zeszyt
Rok wydania2009
Od strony023503
Do strony023507
Numer publikacji
Język publikacjiAngielski
Język etniczny badanej kultury
Zasięgmiędzynarodowy
Rok sprawozdawczy2009

Lista autorów
  
 1. Jolanta Borysiuk, Zakład Fizyki Ciała Stałego; Institute of Electronic Materials Technology, Warsaw [Współautor]
 2. Rafał Bożek, Zakład Fizyki Ciała Stałego [Współautor]
 3. W. Strupiński, Jednostka zewnetrzna; Institute of Electronic Materials Technology, Warsaw [Współautor]
 4. Andrzej Wysmołek, Zakład Fizyki Ciała Stałego [Współautor]
 5. Kacper Grodecki, Zakład Fizyki Ciała Stałego; Institute of Electronic Materials Technology, Warsaw [Współautor]
 6. Roman Stępniewski, Zakład Fizyki Ciała Stałego [Współautor]
 7. Jacek Baranowski, Zakład Fizyki Ciała Stałego [Współautor]