Determination of Si wafer resistivity distributions by C-V measurements

Dane publikacji
  
Typ publikacjiPublikacja w czasopiśmie
Rodzaj publikacjiArtykuł
Tytuł publikacjiDetermination of Si wafer resistivity distributions by C-V measurements
Adres internetowy
Tytuł czasopismaPROCEEDINGS OF SCIENCE
Mediumpublikacja drukowana
Tom
Zeszyt
Rok wydania2009
Od strony1
Do strony7
Numer publikacji
Język publikacjiAngielski
Język etniczny badanej kultury
Zasięgmiędzynarodowy
Rok sprawozdawczy2009

Lista autorów
  
 1. Andrzej Kordyasz, Środowiskowe Laboratorium Ciężkich Jonów w UW [Współautor]
 2. Michał Kowalczyk, Zakład Fizyki Jądra Atomowego [Współautor]
 3. Andrzej Bednarek, Środowiskowe Laboratorium Ciężkich Jonów w UW [Współautor]
 4. L. Bardelli, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 5. R. Bougault, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 11. Jerzy Tarasiuk, Instytut Fizyki Doświadczalnej [Współautor]