Determination of Si wafer resistivity distributions by C-V measurements
Dane publikacji
Typ publikacji
Publikacja w czasopiśmie
Rodzaj publikacji
Artykuł
Tytuł publikacji
Determination of Si wafer resistivity distributions by C-V measurements
Adres internetowy
Tytuł czasopisma
PROCEEDINGS OF SCIENCE
Medium
publikacja drukowana
Tom
Zeszyt
Rok wydania
2009
Od strony
1
Do strony
7
Numer publikacji
Język publikacji
Angielski
Język etniczny badanej kultury
Zasięg
międzynarodowy
Rok sprawozdawczy
2009
Lista autorów
1.
Andrzej Kordyasz
,
Środowiskowe Laboratorium Ciężkich Jonów w UW
[
Współautor
]
2.
Michał Kowalczyk
,
Zakład Fizyki Jądra Atomowego
[
Współautor
]
3.
Andrzej Bednarek
,
Środowiskowe Laboratorium Ciężkich Jonów w UW
[
Współautor
]
4.
L. Bardelli,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]
5.
R. Bougault,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]
11.
Jerzy Tarasiuk
,
Instytut Fizyki Doświadczalnej
[
Współautor
]