A comparative DFT study of electronic properties of 2H-, 4H- and 6H-SiC(0001) and SiC(0001) clean surfaces: significance of the suface Stark effect
Dane publikacji
Typ publikacji
Publikacja w czasopi¶mie
Rodzaj publikacji
Artykuł
Tytuł publikacji
A comparative DFT study of electronic properties of 2H-, 4H- and 6H-SiC(0001) and SiC(0001) clean surfaces: significance of the suface Stark effect
Adres internetowy
http://iopscience.iop.org/1367-2630/12/4/043024
Tytuł czasopisma
NEW JOURNAL OF PHYSICS
Medium
publikacja drukowana
Tom
12
Zeszyt
Rok wydania
2010
Od strony
1
Do strony
18
Numer publikacji
043024
Język publikacji
Angielski
Język etniczny badanej kultury
Zasięg
międzynarodowy
Rok sprawozdawczy
2010
Lista autorów
1.
Jakub Sołtys
,
Interdyscyplinarne Centrum Modelowania Matem.i Komput.(ICM)
[
Współautor
]
2.
Jacek Piechota
,
Interdyscyplinarne Centrum Modelowania Matem.i Komput.(ICM)
[
Współautor
]
3.
Michał Łopuszyński
,
Interdyscyplinarne Centrum Modelowania Matem.i Komput.(ICM)
[
Współautor
]
4.
Stanisław Krukowski
,
Interdyscyplinarne Centrum Modelowania Matem.i Komput.(ICM)
[
Współautor
]