Sensitivity of imaging properties of metal-dielectric layered flat lens to fabrication inaccuracies

Dane publikacji
  
Typ publikacjiPublikacja w czasopi¶mie
Rodzaj publikacjiArtykuł
Tytuł publikacjiSensitivity of imaging properties of metal-dielectric layered flat lens to fabrication inaccuracies
Adres internetowyhttp://adsabs.harvard.edu/abs/2010OERv...18..446K
Tytuł czasopismaOPTO-ELECTRONICS REVIEW
Mediumpublikacja drukowana
Tom18
Zeszyt
Rok wydania2010
Od strony446
Do strony446
Numer publikacji
Język publikacjiAngielski
Język etniczny badanej kultury
Zasięgmiędzynarodowy
Rok sprawozdawczy2010

Lista autorów
  
 1. Rafał Kotyński, Zakład Optyki Informacyjnej [Współautor]
 2. H. Baghdasaryan, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 3. Tomasz Stefaniuk, Zakład Optyki Informacyjnej; Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki, Instytut Geofizyki [Współautor]
 4. A. Pastuszczak, Jednostka zewnetrzna; Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki, Instytut Geofizyki [Współautor]
 5. M. Marciniak, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 6. A. Lavrinenko, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 7. K. Panajotov, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 8. Tomasz Szoplik, Zakład Optyki Informacyjnej [Współautor]