Defects of SiC nanowires studied by STM and STS.
Dane publikacji
Typ publikacji
Publikacja w czasopi¶mie
Rodzaj publikacji
Artykuł
Tytuł publikacji
Defects of SiC nanowires studied by STM and STS.
Adres internetowy
http://www.deteh.itr.org.pl/projekt3.p2/promocja_pliki/p5_App_surf_sci_2010_256_15_4771_abst.pdf
Tytuł czasopisma
APPLIED SURFACE SCIENCE
Medium
publikacja drukowana
Tom
256
Zeszyt
Rok wydania
2010
Od strony
4771
Do strony
4776
Numer publikacji
Język publikacji
Angielski
Język etniczny badanej kultury
Zasięg
międzynarodowy
Rok sprawozdawczy
2010
Lista autorów
1.
M Busiakiewicz,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]
2.
Andrzej Huczko
,
Pracownia Fizykochemii Nanomateriałów
[
Współautor
]
3.
T. Dudziak,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]
4.
M. Muchalski,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]
5.
W. Kozłowski,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]
6.
M. Cichomski,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]
7.
Z. Klusek,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]
8.
W. Olejniczak,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]