Defects of SiC nanowires studied by STM and STS.

Dane publikacji
  
Typ publikacjiPublikacja w czasopi¶mie
Rodzaj publikacjiArtykuł
Tytuł publikacjiDefects of SiC nanowires studied by STM and STS.
Adres internetowyhttp://www.deteh.itr.org.pl/projekt3.p2/promocja_pliki/p5_App_surf_sci_2010_256_15_4771_abst.pdf
Tytuł czasopismaAPPLIED SURFACE SCIENCE
Mediumpublikacja drukowana
Tom256
Zeszyt
Rok wydania2010
Od strony4771
Do strony4776
Numer publikacji
Język publikacjiAngielski
Język etniczny badanej kultury
Zasięgmiędzynarodowy
Rok sprawozdawczy2010

Lista autorów
  
 1. M Busiakiewicz, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 2. Andrzej Huczko, Pracownia Fizykochemii Nanomateriałów [Współautor]
 3. T. Dudziak, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 4. M. Muchalski, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 5. W. Kozłowski, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 6. M. Cichomski, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 7. Z. Klusek, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 8. W. Olejniczak, Jednostka zewnetrzna [Współautor]