| ||
| 1. | X-Ray High-Resolution Diffraction and Transmission Topography Study of InGaAs Grown by Liquid Encapsulated Czochralski Technique
[ LINK ]
ACTA PHYSICA POLONICA A Tom 114 Nr 2 r. 2008, str. 391-398 (Artykuł konferencyjny) Grzegorz Kowalski, Jerzy Gronkowski, Andrzej Hruban, Janusz Borowski | |
| 2. | High-resolution x-ray diffraction study of CZ-grown GaAsP crystals
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE Tom 204 Nr 8 r. 2007, str. 2578-2584 (Artykuł konferencyjny) Grzegorz Kowalski, Jerzy Gronkowski, Aleksandra Czyżak, Tomasz Słupiński, Janusz Borowski | |
| 3. | X-ray diffuse-scattering study of defects in α-sapphire
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE Tom 203 Nr 15 r. 2006, str. 3633-3639 (Artykuł) Jerzy Gronkowski, Janusz Borowski, Elżbieta Rohozińska, Małgorzata Kowalska, Krzysztof Pakuła | |
| 4. | Numerical simulations of X-ray rocking curves in multiple-crystal arrangements
JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS Tom 401 r. 2005, str. 212-216 (Artykuł konferencyjny) Janusz Borowski, Jerzy Gronkowski, Rafał Salamonik | |
| 5. | High resolution X-ray diffraction defect structure characterization in Si-doped and undoped GaN films
MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY Tom 91-92 r. 2002, str. 441-444 (Artykuł konferencyjny) Elżbieta Rohozińska, Małgorzata Kowalska, Valeri Harutyunyan, Krzysztof Pakuła, Janusz Borowski | |
| 6. | Klein-Gordon Formulation of X-Ray Diffraction in the Laue Case
[ LINK ]
ACTA PHYSICA POLONICA A Tom 101 Nr 5 r. 2002, str. 767-780 (Artykuł konferencyjny) Janusz Borowski | |
| 7. | The Wiener-Khinchine theorem for x-ray radiation
ACTA CRYSTALLOGRAPHICA SECTION A Tom 58 r. 2002, str. 354-354 (Artykuł konferencyjny) Jerzy Gronkowski, Janusz Borowski | |
| 8. | X-ray diffraction pictures for Fourier-transformed narrow incident beams
JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS Tom 328 r. 2001, str. 211-213 (Artykuł konferencyjny) Janusz Borowski, Jerzy Gronkowski | |
| 9. | X-ray High-Resolution Diffractometry for Studies of Diffuse Scattering in Semiconductor Materials
CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY Tom 36 Nr 8-10 r. 2001, str. 815-824 (Artykuł konferencyjny) Jerzy Gronkowski, Janusz Borowski | |
| 10. | X-ray section topographs under various coherence properties of the primary beam
JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS Tom 34 r. 2001, str. 3496-3499 (Artykuł) Janusz Borowski, Jerzy Gronkowski | |
| 11. | High-resolution characterization of microdefects by X-ray diffuse scattering
PHILOSOPHICAL TRANSACTIONS OF THE ROYAL SOCIETY A-MATHEMATICAL PHYSICAL AND ENGINEERING SCIENCES Tom 357 r. 1999, str. 2721-2729 (Artykuł) Jerzy Gronkowski, Janusz Borowski, Elżbieta Rohozińska | |
| 12. | X-ray diffuse scattering from extended microdefects of orthorhombic symmetry for Si single crystals
JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS Tom 286 r. 1999, str. 250-253 (Artykuł konferencyjny) Janusz Borowski, Jerzy Gronkowski | |
| 13. | X-ray topography studies of microdefects in silicon
PHILOSOPHICAL TRANSACTIONS OF THE ROYAL SOCIETY A-MATHEMATICAL PHYSICAL AND ENGINEERING SCIENCES Tom 357 r. 1999, str. 2707-2719 (Artykuł) Grzegorz Kowalski, Maria Lefeld-Sosnowska, Jerzy Gronkowski, Janusz Borowski | |
| 14. | X-ray diffuse scattering characterisation of microdefects in highly Te-doped annealed GaAs crystals
JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS Tom 31 r. 1998, str. 1883-1886 (Artykuł) Janusz Borowski, Jerzy Gronkowski, Elżbieta Rohozińska, Tomasz Słupiński | |
| 15. | X-ray diffuse scattering characterization of microdefects in highly Te-doped annealed GaAs crystals
JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS Tom 31 r. 1998, str. 1883-1887 (Artykuł) Janusz Borowski, Jerzy Gronkowski, Elżbieta Rohozińska, Tomasz Słupiński | |
| ||
| 16. | X-ray diffuse scattering study of defects in α-sapphire
w: E-MRS 2005 Fall Meeting, Warsaw, 5–9 September 2005, str. 135-135, r. 2005 (Komunikat) Jerzy Gronkowski, Elżbieta Rohozińska, Janusz Borowski | |
| 17. | Numerical Simulations of X-Ray Rocking Curves in Multiple-Crystal Arrangements
w: Intern. Conf. on Experimental and Computing Methods in High Resolution Diffraction Applied for Structure Characterization of Modern Materials HREDAMM, str. 86-86, Institute of Physics, Polish Academy of Sciences, r. 2004 (Komunikat) Janusz Borowski, Jerzy Gronkowski, Rafał Salamonik | |
| 18. | X-Ray Diffuse Scattering from Statistically Distributed Defects
w: Intern. Conf. on Experimental and Computing Methods in High Resolution Diffraction Applied for Structure Characterization of Modern Materials HREDAMM, str. 20-20, Institute of Physics, Polish Academy of Science, r. 2004 (Komunikat) Jerzy Gronkowski, Elżbieta Rohozińska, Janusz Borowski | |
| 19. | Mikrodefekty w monokryształach Si:Ge i Si
w: Wzrost i Charakteryzacja Kryształów, str. 57-66, Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych, r. 2000 (Artykuł konferencyjny) Maria Lefeld-Sosnowska, Janusz Borowski, Zbigniew Grygoruk, Jan Błażewicz | |