| Dane publikacji |
|---|
| | |
| Typ publikacji | Publikacja w czasopi¶mie |
| Rodzaj publikacji | Artykuł |
| Tytuł publikacji | Triple axis diffractometric investigations of the microstructure of thin AlxGa1-xN epitaxial films |
| Adres internetowy | |
| Tytuł czasopisma | CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY |
| Medium | |
| Tom | 38 |
| Zeszyt | 11 |
| Rok wydania | 2003 |
| Od strony | 951 |
| Do strony | 955 |
| Numer publikacji | |
| Język publikacji | Angielski |
| Język etniczny badanej kultury | |
| Zasięg | międzynarodowy |
| Rok sprawozdawczy | 2003 |