| Dane publikacji |
|---|
| | |
| Typ publikacji | Publikacja w czasopi¶mie |
| Rodzaj publikacji | Artykuł |
| Tytuł publikacji | X-ray topography studies of microdefects in silicon |
| Adres internetowy | |
| Tytuł czasopisma | PHILOSOPHICAL TRANSACTIONS OF THE ROYAL SOCIETY A-MATHEMATICAL PHYSICAL AND ENGINEERING SCIENCES |
| Medium | publikacja drukowana |
| Tom | 357 |
| Zeszyt | |
| Rok wydania | 1999 |
| Od strony | 2707 |
| Do strony | 2719 |
| Numer publikacji | |
| Język publikacji | Angielski |
| Język etniczny badanej kultury | |
| Zasięg | międzynarodowy |
| Rok sprawozdawczy | 1999 |