X-ray diffuse scattering from extended microdefects of orthorhombic symmetry for Si single crystals

Dane publikacji
  
Typ publikacjiPublikacja w czasopi¶mie
Rodzaj publikacjiArtykuł konferencyjny
Tytuł publikacjiX-ray diffuse scattering from extended microdefects of orthorhombic symmetry for Si single crystals
Adres internetowy
Tytuł czasopismaJOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS
Mediumpublikacja drukowana
Tom286
Zeszyt
Rok wydania1999
Od strony250
Do strony253
Numer publikacji
Język publikacjiAngielski
Język etniczny badanej kultury
Zasięgmiędzynarodowy
Rok sprawozdawczy1999

Lista autorów
  
 1. Janusz Borowski, Zakład Badań Strukturalnych [Współautor]
 2. Jerzy Gronkowski, Zakład Badań Strukturalnych [Współautor]