| Dane publikacji |
|---|
| | |
| Typ publikacji | Publikacja w czasopi¶mie |
| Rodzaj publikacji | Artykuł konferencyjny |
| Tytuł publikacji | X-ray High-Resolution Diffractometry for Studies of Diffuse Scattering in Semiconductor Materials |
| Adres internetowy | |
| Tytuł czasopisma | CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY |
| Medium | |
| Tom | 36 |
| Zeszyt | 8-10 |
| Rok wydania | 2001 |
| Od strony | 815 |
| Do strony | 824 |
| Numer publikacji | |
| Język publikacji | Angielski |
| Język etniczny badanej kultury | |
| Zasięg | międzynarodowy |
| Rok sprawozdawczy | 2001 |