| Dane publikacji |
|---|
| | |
| Typ publikacji | Publikacja w czasopi¶mie |
| Rodzaj publikacji | Artykuł |
| Tytuł publikacji | X-ray diffuse scattering characterisation of microdefects in highly Te-doped annealed GaAs crystals |
| Adres internetowy | |
| Tytuł czasopisma | JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS |
| Medium | |
| Tom | 31 |
| Zeszyt | |
| Rok wydania | 1998 |
| Od strony | 1883 |
| Do strony | 1886 |
| Numer publikacji | |
| Język publikacji | Angielski |
| Język etniczny badanej kultury | |
| Zasięg | krajowy |
| Rok sprawozdawczy | 1998 |