| Dane publikacji |
|---|
| | |
| Typ publikacji | Publikacja w książce |
| Rodzaj publikacji | Artykuł konferencyjny |
| Tytuł publikacji | Badania kryształów GaAs metodami wysokorozdzielczej dyfrakcji promieni X |
| Adres internetowy | |
| Tytuł książki | Wzrost i Charakteryzacja Kryształów |
| Tom | |
| Od strony | 50 |
| Do strony | 56 |
| Liczba arkuszy | |
| Liczba stron | |
| Oznaczenie wydania | |
| Miejsce wydania | Warszawa |
| Nazwa wydawcy | Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych |
| Rok wydania | 2000 |
| Tytuł serii | Prace ITME |
| Numer w serii | 56 |
| Numer publikacji | |
| Język publikacji | Polski |
| Język etniczny badanej kultury | |
| Zasięg | krajowy |
| Rok sprawozdawczy | 2000 |