High-resolution characterization of microdefects by X-ray diffuse scattering

Dane publikacji
  
Typ publikacjiPublikacja w czasopi¶mie
Rodzaj publikacjiArtykuł
Tytuł publikacjiHigh-resolution characterization of microdefects by X-ray diffuse scattering
Adres internetowy
Tytuł czasopismaPHILOSOPHICAL TRANSACTIONS OF THE ROYAL SOCIETY A-MATHEMATICAL PHYSICAL AND ENGINEERING SCIENCES
Mediumpublikacja drukowana
Tom357
Zeszyt
Rok wydania1999
Od strony2721
Do strony2729
Numer publikacji
Język publikacjiAngielski
Język etniczny badanej kultury
Zasięgmiędzynarodowy
Rok sprawozdawczy1999

Lista autorów
  
 1. Jerzy Gronkowski, Zakład Badań Strukturalnych [Współautor]
 2. Janusz Borowski, Zakład Badań Strukturalnych [Współautor]
 3. Elżbieta Rohozińska, Zakład Badań Strukturalnych [Współautor]