| Dane publikacji |
|---|
| | |
| Typ publikacji | Publikacja w czasopi¶mie |
| Rodzaj publikacji | Artykuł |
| Tytuł publikacji | X-ray diffuse scattering characterization of microdefects in highly Te-doped annealed GaAs crystals |
| Adres internetowy | |
| Tytuł czasopisma | JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS |
| Medium | publikacja drukowana |
| Tom | 31 |
| Zeszyt | |
| Rok wydania | 1998 |
| Od strony | 1883 |
| Do strony | 1887 |
| Numer publikacji | |
| Język publikacji | Angielski |
| Język etniczny badanej kultury | |
| Zasięg | międzynarodowy |
| Rok sprawozdawczy | 1998 |