X-ray Diffraction Study of Composition Inhomogeneities in Ga1-xInxN Thin Layers
Dane publikacji
Typ publikacji
Publikacja w czasopi¶mie
Rodzaj publikacji
Artykuł konferencyjny
Tytuł publikacji
X-ray Diffraction Study of Composition Inhomogeneities in Ga1-xInxN Thin Layers
Adres internetowy
Tytuł czasopisma
CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY
Medium
Tom
36
Zeszyt
8-10
Rok wydania
2001
Od strony
903
Do strony
910
Numer publikacji
Język publikacji
Angielski
Język etniczny badanej kultury
Zasięg
międzynarodowy
Rok sprawozdawczy
2001
Lista autorów
1.
Elżbieta Rohozińska
,
Zakład Badań Strukturalnych
[
Współautor
]
2.
Jerzy Gronkowski
,
Zakład Badań Strukturalnych
[
Współautor
]
3.
Małgorzata Kowalska
,
Studia dzienne - doktoranckie Wydziału Fizyki
[
Współautor
]
4.
Małgorzata Majer,
Jednostka zewnetrzna
[
Współautor
]
5.
Krzysztof Pakuła
,
Zakład Fizyki Ciała Stałego
[
Współautor
]