X-ray Diffraction Study of Composition Inhomogeneities in Ga1-xInxN Thin Layers

Dane publikacji
  
Typ publikacjiPublikacja w czasopi¶mie
Rodzaj publikacjiArtykuł konferencyjny
Tytuł publikacjiX-ray Diffraction Study of Composition Inhomogeneities in Ga1-xInxN Thin Layers
Adres internetowy
Tytuł czasopismaCRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY
Medium
Tom36
Zeszyt8-10
Rok wydania2001
Od strony903
Do strony910
Numer publikacji
Język publikacjiAngielski
Język etniczny badanej kultury
Zasięgmiędzynarodowy
Rok sprawozdawczy2001

Lista autorów
  
 1. Elżbieta Rohozińska, Zakład Badań Strukturalnych [Współautor]
 2. Jerzy Gronkowski, Zakład Badań Strukturalnych [Współautor]
 3. Małgorzata Kowalska, Studia dzienne - doktoranckie Wydziału Fizyki [Współautor]
 4. Małgorzata Majer, Jednostka zewnetrzna [Współautor]
 5. Krzysztof Pakuła, Zakład Fizyki Ciała Stałego [Współautor]